Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC) – choć łatwo połamać sobie język na tym terminie – jest bardzo ważna dla ludzi żyjących w nowoczesnym świecie. Specjaliści zajmujący się EMC badają wpływ jednych systemów elektrycznych czy elektronicznych na inne.
To właśnie im zawdzięczamy, że na przykład system sterowania podchodzącego do lądowania samolotu nie zostanie zakłócony przez przypadkowe urządzenie. Badaczom chodzi zwykle nie tylko o określenie wielkości oddziaływania między urządzeniami, ale też o zminimalizowanie energii emitowanej w postaci fal elektromagnetycznych oraz o wykluczenie interferencji (EMI) zewnętrznych pól z sygnałem użytecznym. Doskonałe rozwiązania nie istnieją, ale stworzone w Europie przepisy precyzyjnie określają dopuszczalne maksymalne wielkości generowanych zakłóceń. Pracuje się też nad obniżeniem wrażliwości urządzeń na zewnętrzne zakłócenia.
Żyjemy w środowisku elektromagnetycznym. Podlegamy oddziaływaniom pochodzącym od obiektów celowo lub przypadkowo emitujących fale elektromagnetyczne. Te pierwsze to nadajniki radiowe, telewizyjne czy radiolokacyjne. Do drugiej kategorii zaliczymy cały sprzęt zasilany elektrycznie, np. urządzenia gospodarstwa domowego. Takie urządzenia są źródłem zaburzeń o różnym natężeniu i charakterze.
Szczególnie ważne jest badanie urządzeń, które służą do pomiarów i standaryzowania. Taka praca wymaga nie tylko specjalistycznej wiedzy i dużych możliwości sprzętowych, ale także znacznych kompetencji i doświadczenia osób prowadzących pomiary. – Również specjaliści miewają problemy z oceną jakości pomiarów i interpretacją ich znaczenia - podkreślali uczestnicy IX Krajowych Warsztatów Kompatybilności Elektromagnetycznej, które zorganizowane zostały trwały na Politechnice Wrocławskiej. Warsztaty zazębiały się z pokrewną tematycznie Konferencją KKRRiT.
Trudno uświadomić sobie pełną skalę trudności interpretacyjnych, jakie wynikają z zaawansowanych pomiarów. Nawet gdy spełnia się wszystkie normy, można nie uchronić się od błędów – choćby z powodu wad wzorców. Zdarzało się już, że nadrzędna instytucja niewłaściwie wybrała wzorzec. A jeśli u początków tworzonego systemu pojawi się błąd, będzie on powielany w całej strukturze organizacyjnej. Na tym polega niebezpieczeństwo piętrowo skonstruowanych systemów wzorcowania. - Tylko specjalista o bardzo dużych kompetencjach i zdolności do samodzielnej oceny wyników może wychwycić takie wady. Stosowanie procedury nie zwalnia pomiarowca z obowiązku myślenia – podkreślają doświadczeni praktycy, wśród nich prowadzący kilka sesji mgr inż. Jerzy Borowiec.
We wspomnianym przypadku błędny wzorzec funkcjonował przez trzy lata, póki Polskie Centrum Akredytacji nie odkryło, że to, co uchodziło za modelowe, było wadliwe, a to, co odrzucono mogło być prawidłowe. Niektóre laboratoria poniosły z tego tytułu istotne straty. Jak powiedział podczas warsztatów kierownik laboratorium badawczego IASE mgr inż. Donat Zemełko, nie wystarczy aparatura z najlepszych firm, nie wystarczy ją wywzorcować ani stosować procedury. Warto być krytycznym wobec uzyskanych przez siebie wyników.
Przewodniczący Komitetu Organizacyjnego warsztatów, dr Zbigniew Jóskiewicz, podkreślał, że konferencja jest adresowana częściowo do świata nauki, ale ma też charakter szkoleniowy. To forum wymiany wiedzy i doświadczeń dla różnych środowisk. Ponad 50 proc. uczestników Krajowych Warsztatów EMC związanych jest z przemysłem, około 20-30 proc. reprezentowało uczelnie, pozostali to kadry laboratoriów i pracowni badawczych. Na warsztatach prezentowano również aparaturę i sposoby pomiaru. Towarzyszyła im wystawa techniczna, uczestnicy mogli zwiedzić uczelniane Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej. – Nastawiamy się na przemysł, praktyków, użytkowników, którzy muszą sobie radzić z realizacją konkretnych prac. Zdobyta tu wiedza ma dla nich bardzo wymierną korzyść: ogranicza się dzięki niej koszty wprowadzania nowych produktów, czy też tworzenia nowych urządzeń – mówił dr Jóskiewicz.
W dyskusji panelowej (z udziałem dra inż.Mirosława Pietranika, mgra inż. Donata Zemełki, profesora Pawła Bieńkowskiego i mgr inż. Jerzego Borowca) rozmawiano o pożytkach ze zlecania badań aparatury niezależnym od producenta laboratoriom. Wspominano o kruczkach formalnych stosowanych czasem przez producentów, którzy nie zawsze lub nie w całości prowadzą pomiary swojej aparatury według standardów certyfikacji.
Profesor Paweł Bieńkowski przypomniał, że prawidłowe wzorcowanie urządzenia nie jest możliwe bez dobrej współpracy między jego użytkownikiem a wykonawcą pomiarów (poza ewidentną potrzebą ustalenia zakresu pomiarowego celowe jest np. wskazanie szczególnie ważnego dla użytkownika zakresu stosowania, w którym należy zagęścić punkty pomiarowe). Zajęto się też problemem pomiarów in situ, które są z reguły mniej precyzyjne od prowadzonych w laboratorium. Zachowanie spójności pomiarowej staje się tu problemem ze względu na skutki transportu mierników, zmienione warunki środowiskowe i jakość dodatkowych elementów wyposażenia stanowiska. Wiele zależy przy tym od zawodowego doświadczenia osób prowadzących pomiary. Podkreślano, że wzorcowanie mierników transportowanych do zewnętrznych obiektów pomiarowych musi być częstsze, co wiąże się ze wzrostem kosztów.
Szersze spojrzenie pomiarowe przedstawiła dyrektor Zakładu Elektrycznego Głównego Urzędu Miar Elżbieta Michniewicz w referacie na temat roli GUM jako krajowej instytucji metrologicznej (NMI) w międzynarodowej i krajowej infrastrukturze metrologicznej. Instytucje metrologiczne każdego państwa zapewniają jego obywatelom i instytucjom źródło spójności większości pomiarów. Zależnie od polityki i poziomu gospodarczego państwa zakres krajowych regulacji dotyczących pomiarów jest różny. Pozycja krajowej instytucji metrologicznej zależy od decyzji władz państwowych. Rządy państw powinny dążyć do tego, by można było osiągnąć ponadnarodową zgodność wyników. – Warsztaty EMC są istotne nie tylko jako forum, na którym podnosi się świadomość znaczenia norm pomiarowych. Urząd interesuje się konferencją także dlatego, że zajmuje się kompatybilnością elektromagnetyczną – mówiła dyrektor Elżbieta Michniewicz.
IX Krajowe Warsztaty Kompatybilności Elektromagnetycznej trwały od 12 do 14 czerwca 2013 r. w Centrum Konferencyjnym Politechniki Wrocławskiej. Odbyło się pięć sesji plenarnych, trzynaście tematycznych i trzy firmowe oraz panel dyskusyjny. Towarzyszącymi imprezami były spotkania: IEEE Society Polish Chapter oraz Sekcji EMC KEIT PAN. Patronat nad warsztatami objęła prezes UKE Magdalena Gaj.
– Myślę, że dzięki tym spotkaniom staliśmy się już jedną kompatybilnościową rodziną – powiedział na zakończenie warsztatów rektor PWr profesor Tadeusz Więckowski, który kieruje także Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej. Rektor zapowiedział, że następne, już dziesiąte, spotkanie z tego cyklu odbędzie się za dwa lata.
Maria Kisza
Organizatorzy IX Krajowych Warsztatów EMC: Politechnika Wrocławska, Urząd Komunikacji Elektronicznej, Sekcja Kompatybilności Elektromagnetycznej Komitetu Elektroniki i Telekomunikacji PAN oraz Zakład Kompatybilności Elektromagnetycznej we Wrocławiu Instytutu Łączności – Państwowego Instytutu Badawczego. Szczegóły tutaj.
|