Naukowcy i studenci spotkali się na ogólnopolskim seminarium poświęconym technikom jonowym. Organizatorem konferencji był Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur Politechniki Wrocławskiej. Obradom towarzyszyła zimowa szkoła „Nanoinżynieria Powierzchni TJ&nanoIP”
Seminarium odbyło się już po raz trzynasty. - Zależy nam na tym, aby stworzyć forum wymiany myśli i doświadczeń dla młodych ludzi, którzy interesują się szeroko rozumianą nanoinżynierią. Dlatego zarówno seminarium, jak i szkoła od początku mają formę dzielenia się wiedzą bardziej praktyczną niż teoretyczną – mówi profesor Teodor Gotszalk, organizator spotkania oraz kierownik Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur WEMiF.
W ramach szkoły nanoIP (która miała już swoją trzecią edycję) uczestnicy wysłuchali jedenastu wykładów związanych z tematyką SPM (ang. scanning probe microscopy), FIB (ang. focused ion beam) oraz IS (ang. impedance spectroscopy).
Sesję rozpoczął dr Letian Li z FEI Company, który wygłosił referat pt. „Introduction into DualBeam system and its applications”. Następnie światowej klasy ekspert w dziedzinie zogniskowanych wiązek jonów, profesor Philip Prewett z University of Birmingham, wygłosił referat pt. “Focused Ion Beams. Fundamentals”. Kolejno, dr Andrzej Sikora z Instytutu Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego zaprezentował wykład „Diagnostyka właściwości mechanicznych powierzchni w trybie NanoSwing”, pokazując jedną ze ścieżek rozwoju mikroskopii SPM. Z kolei Krzysztof Głowacki z firmy Labsoft opowiedział o nanomanipulatorach w skaningowej mikroskopii elektronowej, czyli „rękach” o precyzji ruchu rzędu pojedynczych nanometrów.
Pracownicy i doktoranci ZMMiN WEMiF zaprezentowali własne doświadczenia i wyniki prac z wykorzystaniem techniki SPM, IS oraz FIB. Wojciech Majstrzyk opowiedział o pracach prowadzonych w Laboratorium Drobnowidztwa i Drobnodziejstwa nad strukturami typu MEMS/NEMS z zastosowaniem zogniskowanych wiązek jonów i elektronów. Daniel Kopiec omówił zasadę działania wielorezonansowej mikroskopii sił atomowych w pomiarach właściwości elektrycznych powierzchni. Magdalena Moczała wygłosiła referat o pomiarach właściwości mechanicznych struktur FoMaMet metodami SPM. Karolina Orłowska przedstawiła wyniki badań metodami SPM struktur rozciąganych mechanicznie. Maciej Rudek zaprezentował wyniki pomiarów uzyskanych za pomocą mikroskopu SPM zmodyfikowanego w ramach projektu NanoHEAT. Tomasz Piasecki pokazał nowe sposoby zastosowania spektroskopii impedancyjnej. Konrad Chabowski zreferował problem pomiarów impedancyjnych struktur biologicznych.
Oprócz wykładów i prelekcji można było też zapoznać się z aparaturą wykorzystywaną w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur. Pokazano dwa mikroskopy SPM własnej konstrukcji serii Drobnowidz: Mikroskop Tunelowy (STM) oraz Mikroskop Sił Atomowych (AFM). Prezentację uzupełniały pokazy spektroskopii impedancyjnej w badaniu oscylujących układów MEMS na przykładzie zegarkowego rezonatora kwarcowego, zwanego potocznie „widelcem”.
Uczestnicy zajęć otrzymali certyfikaty potwierdzające udział w szkoleniu z zakresu FIB, SPM oraz IS.
Podczas sesji wykładowych w ramach Technik Jonowych referaty wygłosili naukowcy z Politechniki Koszalińskiej, Instytutu Technologii Elektronowej, Politechniki Warszawskiej, Politechniki Gdańskiej, Politechniki Łódzkiej, Politechniki Wrocławskiej oraz Uniwersytetu Technicznego w Libercu. Wiele emocji wzbudził ostatni wykład - profesora Petra Loudy – który mówił o zagrożeniach nanomateriałów i nanotechnologii.
Michał Świątkowski, oprac. ISZ
*** 13. Ogólnopolskie Seminarium Techniki Jonowe i III Zimowa Szkoła Nanoinżynieria Powierzchni odbyły się w Szklarskiej Porębie w dniach 5-8 marca 2014 roku. Oprócz Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur PWr współorganizatorami spotkania byli UMCS w Lublinie oraz Polskie Towarzystwo Próżniowe.
|