Zespół z Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur WEMiF PWr kontynuuje współpracę badawczą z zespołami IBM z Yorktown Heights i Rüschlikon pod Zurychem. – Zależy nam na kontaktach z dobrymi instytucjami badawczymi, na rozpoznaniu światowych trendów badawczych i zainspirowaniu młodych ludzi do pracy nad obiecującymi rozwiązaniami – mówi profesor Teodor Gotszalk (WEMiF).
W zorganizowanym 17 lipca 2013 r. seminarium z udziałem dr Anny Topol, która jest dyrektorem ds. technologii energetycznych i użytkowych IBM Corporation, uczestniczyli także reprezentanci jednostek tworzących Centrum Naukowe Technik Informacyjnych i Komunikacyjnych PWr (IBM Center for Advanced Studies): Mariusz Ochla - kierujący programami akademickimi koncernu IBM w Europie Środkowo-Wschodniej, dr Jerzy Kotowski z Instytutu Informatyki, Automatyki i Robotyki PWr oraz profesor Andrzej Dziedzic – dziekan Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki.
Pracownicy zakładu oraz studenci i doktoranci ze Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego SPENT zaprezentowali swoje wyniki pomiarów mikro- i nanoelektronicznych przyrządów. Przedstawili też potencjalne możliwości zastosowania opracowywanych w zakładzie metod pomiarowych do badań prowadzonych w laboratoriach IBM.
Dr Grzegorz Jóźwiak omówił zagadnienia pomiaru właściwości ostrza pomiarowego mikroskopu sił atomowych (AFM). Wiedza ta może się przyczynić do usprawnienia wielu procesów technologicznych szlifowania podłoży i wzorcowania układów przesuwu mikroskopów AFM. Dr Jóźwiak wyjaśnił, jak rozpoznawać kierunki krystaliczne materiałów na podstawie samej obserwacji ich powierzchni. Grzegorz Wielgoszewski przedstawił rozwijane od ponad 10 lat w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur WEMiF nowoczesne techniki pomiaru właściwości cieplnych prowadzone za pomocą skaningowego mikroskopu termicznego. Umożliwiają one szczególnego typu diagnostykę układów mikro- i nanoelektronicznych. Nawiązując do tej prezentacji Maciej Rudek omówił prace badawcze należące do projektu UE STREP NANOHEAT, które są finansowane z 7. Programu Ramowego. Mają one doprowadzić do powstania nowatorskich metod badania właściwości elektrycznych, chemicznych i cieplnych w mikro- i nanostrukturach typu beyond CMOS/more than Moore, a więc wykraczające poza technologię CMOS i empiryczne prawo Moore’a. Problematyka ta jest obecnie głównym przedmiotem zainteresowania producentów układów scalonych. Z kolei dr Tomasz Piasecki przedstawił zastosowanie metod elektrycznych w metrologii mikro- i nanostruktur. Omówił spektroskopię impedancyjną i metody rezonansowe służące do pomiarów właściwości struktur biologicznych.
Swoje najnowsze wyniki zaprezentowali także uczestnicy projektu FoMaMet realizowanego w programie TEAM Fundacji na rzecz Nauki Polskiej. Magdalena Moczała omówiła metody pomiaru właściwości mechanicznych pobudzanych elektrycznie i termicznie struktur MEMS/NEMS (układów mikro-/nanoelektromechanicznych). Karolina Orłowska przedstawiła opracowane układy do pomiarów właściwości tychże struktur MEMS/NEMS za pomocą technik światłowodowych, zaś Krzysztof Gajewski opowiedział o swoich (skutecznych) próbach „okiełznania” grafenu i opanowaniu metod pomiaru właściwości mechanicznych i elektrycznych rezonatorów grafenowych. Każdemu z referatów towarzyszyła dyskusja, nie ustawała nawet w przerwie na kawę i pyszne muffinki.
Dr Anna Topol gościła już w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur na podobnym seminarium w sierpniu 2012 roku. - Widać, że potrafią państwo uczyć się od siebie nawzajem, współpracować i doceniać wkład poszczególnych osób – podkreślała. Dr Topol podarowała uczestnikom seminarium koszulki firmowe najmniejszego filmu świata „A Boy and His Atom”.
Podsumowujące seminarium wystąpienie profesora Teodora Gotszalka było zachętą do przygotowywania kolejnych spotkań. Szczegółowy program spotkania znajduje się na stronie Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego SPENT: www.spent.pwr.wroc.pl
Grzegorz Wielgoszewski
|